IT2800源表纳安(nA) 级低功测试优化方案

IT2800源表纳安(A) 级低功测试优化方案

随着微电子技术的迅速发展和设计水平的提高，芯片的集成度和运算数据量显著增大.这导致芯片的功耗急剧增加。因此，芯片需要进行低功耗设计与测试。同样的生活中的部分电子产品，如 IOT 设备、便携式电池供电产品等，为了保证较长时间工作状态，也必须进行低功耗测试。

低功耗测试的特点

静态电流越来越低，uA休眠电流，甚至nA-级漏电流

信号复杂，动态电流变化范围大，微安 (uA) 休眠电流到几百 mA甚至几A的发射

电流

电流脉冲宽度窄，一般在几百微秒至毫秒级

需要高采样速率和长时间的连续测量

低功耗测试方案

传统方案一、高性能电源+数宇万用表

这主要是因为低功耗测试往往动态特性快，需要电源精度高，响应速度快，另外电源本身的回读速度较慢，为避免漏掉电流突变，常需要配合数字万用表来进行数据采集。

传统方案二、电源分析仪+高精度电源/源表

用电源分析仪对数据进行分析记录代替数字万用表功能，两者价格十分高昂，有时还需要配合收费软件完成测试